ICP-OES Bakım ve Validasyonu | LabServis

ICP Optiksel Emisyon Spektrometresi bakımı için ilk yapılan işlem, cihazın ohassas tüm parçalarının, elektronik kartlarının, hassas optik yüzeylerinin bez kullanmadan tozlardan arındırılmasıdır.

Bildiğinizi üzere ICP cihazı plazma kısmı ve optik kısmı olarak iki ana kısma ayrılır. Uzman bakım mühendisimiz her iki üniteyi de çok hassas bir şekilde temizler. Ayrıca sistemin soğutucu (chiller) aksesuarının, hava kompresörünün ve varsa autosampler aksesuarının da temizliğini ve bakımını yapar. Argon, azot ve hava gelişleri bir bir kontrol edilir.

Cihazın dış temizliği de yapıldıktan sonra genel performans testlerine geçilir.

Bu aşamada cihazın doğruluğu için gerekli standartlar kullanılarak cihazda yeterlilik testleri yapılır. Eğer cihaz bu testlerden herhangi birinin tolerans değerini aşıyorsa Servis Mühendisimiz cihazın yazılımsal ya da donanımsal ölçüm kaymasını tespit ederek onu düzeltir. Yeterlilik testlerini tekrar uygulayarak tolerans içi sonuçlarla birlikte size dosya halinde sonuçlar teslim edilir.


ICP BAKIMININ ÖNEMİ

ICP-OES cihazları, yüksek performansa sahiptir ve uzun süre dayanıklı olacak şekilde tasarlanmıştır. Oldukça iyi planlanıp programlanmış bakım ve onarımla, uzun süre boyunca size sağlıklı analiz imkânı sunar. Temel ICP-OES bakımı, ICP -OES parçalarının ve sarf malzemelerin. Ne zaman değiştirileceğinin ve nasıl kurulacağının bilinmesini içerir. Düzenli bakım, yüksek performansı koruyarak en iyi verimi elde etmenize yardımcı olur. Söz konusu ICP-OES cihazları olduğunda, analistler üç temel sorun üzerinde durmaktadır: hassasiyet, kesinlik ve hatasızlık ile yetersiz numune işlem hacmi. Bunun yanı sıra, laboratuvar ortamının sonuçlarınızın niteliğine doğrudan etki edebileceği unutulmamalıdır. Temiz ve düzenli bir çalışma ortamıyla uygun bir havalandırma sistemi gibi faktörler de dikkatle göz önünde bulundurulmalıdır.


ICP-OES KULLANIMINDA;

Cihazda oluşabilecek hataları en aza indirip en yüksek performansı garanti etmenizi sağlayabilmeniz amacıyla,    ICP-OES kullanırken yapılması ve yapılmaması gerekenler nelerdir.

Yapılması gerekenler:

  • Analize başlamadan önce optimizasyon kontrolü yapın.
  • Nebulizör alımını izleyin.
  • Hiçbir kontaminasyon ya da taşıma olmadığından emin olmak için blank-reading kontrolü yapın.
  • Kontaminasyondan kaçınmak ve nebulizör tıkanmasını azaltmak için numuneler arasında ve işlem sonunda durulama yapın.
  • Durulama çözümünün numune matrisiyle eşleştiğinden emin olun.
  • Düzenli olarak torch ve nebulizerı temizle
  • Nebulizör ucunun durumunu denetleyin.

Yapılmaması gerekenler:

  • Analizler arasında sisteminizin hala optimize edildiğini düşünmek
  • Nebulizör akış hızının analizler arasında aynı kaldığını sanmak
  • Peristaltik pompa tesisatındaki basınç çubuğunu gereğinden fazla sıkıştırmak
  • Basit bir water blank kullanımı
  • Temizlik yapmadan önce tıkanma olana kadar beklemek

BİLGİLER:

İndüktif Eşleşmiş Plazma (ICP) bir malzemenin elemental içeriğini %wt ve ppt oranında kantitatif olarak ölçmeye yarayan analitik bir tekniktir. ICP ile ölçülemeyen elementler C,H,O,N  ve halojenlerdir.

Katı örnekler sıvıda(asidik) çözündürülerek ve ya digeste edilerek ölçümü yapılır.

Numune sıvısı sprayleme yöntemiyle (nebulizer), yaklaşık 8000 C derece sıcaklığa ulaşan indüktif eşleşmiş argon plazmasına gönderilir. Bu sıcaklıkta bütün analitler atomize, iyonize ve termal olarak uyarılmış olduğundan, emisyon spektrometresiyle veya mass spektrometresinde ölçülebilirler.

ICP-OES, termal olarak uyarılmış analit iyonlarından elemente özgü dalga boylarında yayılan ışığı ölçer. Bu yayılan ışık ayrıştırılır ve spektrometrede ölçülür. Ölçüm intensity değeri, kalibrasyon standartlarındaki ölçümlerle karşılaştırılarak konsantrasyon otomatik olarak hesaplanır.
ICP-MS (ICP-Mass Spec) measures the masses of the element ions generated by the high temperature argon plasma. The ions created in the plasma are separated by their mass to charge ratios, enabling the identifcation and quantitation of unknown materials. ICP-MS offers extremely high sensitivity (i.e. low detection limits) for a wide range of elements